Ключевые возможности и технические характеристики

Пять опций с диапазоном частот от 20 Гц до 10/20/30/50/120 МГц, возможность расширения диапазона частот испытательного сигнала
Основная погрешность измерений импеданса: ±0,08% (±0,045% тип.)
Широкий диапазон измерения импеданса: от 25 мОм до 40 МОм (с погрешностью не более ±10%)
Измеряемые параметры: полное сопротивление (|Z|), полная проводимость (|Y|), фазовый сдвиг (θ), активное сопротивление (R), реактивное сопротивление (X), проводимость (G), реактивная проводимость (B), индуктивность (L), емкость (C), тангенс угла потерь (D), добротность (Q), комплексные значения полного сопротивления (Z) и полной проводимости (Y), переменное (Vac) и постоянное (Vdc) напряжение, сила переменного (Iac) и постоянного (Idc) тока
Встроенный источник постоянного напряжения смещения: от 0 В до ±40 В или от 0 А до ±100 мА
Цветной сенсорный жидкокристаллический дисплей с диагональю 10,4 дюйма (26,4 см); 4 канала, 4 трассы
Функции анализа данных: анализ эквивалентных схем, тестирование с использованием ограничительных линий

Описание

Анализатор импеданса Keysight E4990A имеет диапазон частот испытательного сигнала от 20 Гц до 120 МГц. Прибор обеспечивает лучшее в отрасли типовое значение основной погрешности измерений 0,045% в широком диапазоне значений импеданса и оснащен встроенным источником постоянного напряжения смещения до 40 В. Функция анализа эквивалентных схем поддерживает семь различных многопараметрических моделей и позволяет моделировать собственные значения эквивалентных параметров компонентов.

Пять опций (с диапазоном частот от 20 Гц до 10/20/30/50/120 МГц) и возможность расширения диапазона частот испытательного сигнала позволяют выбрать оптимальную конфигурацию для решения задач испытаний.

Анализатор E4990A поддерживает широкий круг принадлежностей, которые позволяют упростить процесс тестирования и повысить точность и надежность измерений.

Анализатор импеданса Keysight E4990A идеально подходит для определения характеристик и тестирования электронных компонентов, полупроводниковых устройств и материалов в процессе разработки, производства, аттестации и контроля качества готовых изделий.

Примеры использования

Пассивные компоненты: измерение импеданса конденсаторов, катушек индуктивности, ферритовых фильтров, резисторов, трансформаторов, кварцевых или пьезокерамических резонаторов
Полупроводниковые компоненты: анализ вольт-амперных характеристик параметрических диодов, измерение импеданса диодов, транзисторов, усилителей и микроэлектромеханических систем
Другие компоненты: измерение импеданса электронных компонентов на печатных платах
Диэлектрические материалы: измерение диэлектрической проницаемости и тангенса угла потерь полимерных материалов, керамики, а также печатных плат
Магнитные материалы: измерение магнитной проницаемости и тангенса угла потерь ферритов и аморфных магнетиков